High-speed Driven Technological Improvements Impact on InterconnectThermal Reliability in VLSI Circuits / M.R. CASU; M.GRAZIANO; G.MASERA; G.PICCININI; ZAMBONI M.. - (2001). ((Intervento presentato al convegno VLSI-SOC 2001.
Titolo: | High-speed Driven Technological Improvements Impact on InterconnectThermal Reliability in VLSI Circuits |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2001 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/1419302
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