Emulation-based Analysis of Soft Errors in Deep Sub-micron Circuits / SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2003), pp. 616-626. (Intervento presentato al convegno International Conference on Field Programmable Logic and Application) [10.1007/b12007].
Emulation-based Analysis of Soft Errors in Deep Sub-micron Circuits
SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2003
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https://hdl.handle.net/11583/1418992
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