Detailed comparison of dependability analyses performed at RT and gate levels / A., A., R., L., SONZA REORDA, M., Violante, M.. - (2003), pp. 336-343. (IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems ).
Detailed comparison of dependability analyses performed at RT and gate levels
SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2003
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https://hdl.handle.net/11583/1418991
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