Accurate and Efficient Analysis of Single Event Transients in VLSI Circuits / Violante, M., SONZA REORDA, M.. - (2003), pp. 101-105. (IEEE International On-Line Testing Symposium ).
Accurate and Efficient Analysis of Single Event Transients in VLSI Circuits
VIOLANTE, MASSIMO;SONZA REORDA, Matteo
2003
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https://hdl.handle.net/11583/1418987
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