A new, simple, test-set for on-wafer characterization of millimeter-wave electro-optic devices / Ferrero, ANDREA PIERENRICO; Ghione, Giovanni; Pirola, Marco. - 3:(2000), pp. 1607-1610. (Intervento presentato al convegno IEEE MTT-S International Microwave Symposium tenutosi a Boston, USA nel 11-16 June) [10.1109/MWSYM.2000.862284].

A new, simple, test-set for on-wafer characterization of millimeter-wave electro-optic devices

FERRERO, ANDREA PIERENRICO;GHIONE, GIOVANNI;PIROLA, Marco
2000

2000
9780780356870
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