Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions / Corno, F., G., C., SONZA REORDA, M., Squillero, G.. - (2002). (ISQED2002: 3rd International Symposium on Quality Electronic Design ).

Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions

CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1409822
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