Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions / Corno, F., G., C., SONZA REORDA, M., Squillero, G.. - (2002). (ISQED2002: 3rd International Symposium on Quality Electronic Design ).
Automatic Test Program Generation from RT-level MicroprocessorDescriptions
CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1409822
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