Modeling of Interconnect Junctions from measured scattering responses / Canavero, Flavio; GRIVET TALOCIA, Stefano; Maio, Ivano Adolfo; Stievano, IGOR SIMONE. - STAMPA. - III:(2001), pp. 185-188. (Intervento presentato al convegno 15th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD ’01) tenutosi a Helsinki (Finland) nel August 28-31, 2001).

Modeling of Interconnect Junctions from measured scattering responses

CANAVERO, Flavio;GRIVET TALOCIA, STEFANO;MAIO, Ivano Adolfo;STIEVANO, IGOR SIMONE
2001

File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
cnf-2001-ecctd-BCFH-4SID.pdf

accesso aperto

Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza: PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione 228.88 kB
Formato Adobe PDF
228.88 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1409408
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo