Embedded Model Control: application to interferometric metrology lines / Canuto, Enrico; Musso, F.. - (2006), pp. 493-500. (Intervento presentato al convegno 11th IEEE Conf. on Emerging Technologies and Factory Automation, ETFA tenutosi a Prague (Czech Republic) nel September 20-22, 2006).
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https://hdl.handle.net/11583/1409369
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