Cellular automata for deterministic sequential test pattern generation / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1997), pp. 60-67. (Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium nel April 27-May 1, 1997).
Cellular automata for deterministic sequential test pattern generation
CHIUSANO, SILVIA ANNA;CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1997
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1408867
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo