Archivio Istituzionale della RicercaGuaranteeing testability in re-encoding for low power / Chiusano, S.A., Corno, F., Prinetto, P.E., Rebaudengo, M., Sonza Reorda, M.. - (1997), pp. 30-35. (IEEE Asian Test Symposium Akita, Jpn, 17-18 November 1997) [10.1109/ATS.1997.643912].
Guaranteeing testability in re-encoding for low power
CHIUSANO, SILVIA ANNA;CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
1997
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https://hdl.handle.net/11583/1408866
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