Guaranteeing Testability in Re-encoding for Low Power / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1997), pp. 30-35. (Intervento presentato al convegno IEEE Asian Test Symposium nel 17-18 November 1997).
Guaranteeing Testability in Re-encoding for Low Power.
CHIUSANO, SILVIA ANNA;CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
1997
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https://hdl.handle.net/11583/1408866
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