A System for Evaluating On-Line Testability at the RT-level / Chiusano, S.A., Corno, F., SONZA REORDA, M., Vietti, R.. - (1998), pp. 284-291. (IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems 2-4 November 1998).
A System for Evaluating On-Line Testability at the RT-level
CHIUSANO, SILVIA ANNA;CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;
1998
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https://hdl.handle.net/11583/1408865
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