Archivio Istituzionale della RicercaPhysics-based noise modelling of semiconductor devices in large-signal operation including low-frequency noise conversion effects / Ghione, Giovanni; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Bertazzi, F; Conte, G.. - (2005), pp. 221-224. (Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting tenutosi a Washington, USA nel 5-7 December 2005) [10.1109/IEDM.2005.1609309].
Physics-based noise modelling of semiconductor devices in large-signal operation including low-frequency noise conversion effects
GHIONE, GIOVANNI;BONANI, Fabrizio;DONATI GUERRIERI, Simona;BERTAZZI F;
2005
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https://hdl.handle.net/11583/1407947
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