A novel implementation of noise analysis in general-purpose PDE-based semiconductor device simulators / Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Pinto, M. R.; Smith, R. K.. - (1995), pp. 777-780. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting tenutosi a Washington, USA nel 10-13 December).
A novel implementation of noise analysis in general-purpose PDE-based semiconductor device simulators
BONANI, Fabrizio;GHIONE, GIOVANNI;
1995
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https://hdl.handle.net/11583/1407928
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