Identification and classification of single-event upsets in the configuration memory of sram-based fpgas / M., Ceschia; Violante, Massimo; SONZA REORDA, Matteo; A., Paccagnella; Bernardi, Paolo; Rebaudengo, Maurizio; D., Bortolato; M., Bellato; P., Zambolin; A., Candelori. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 50:(2003), pp. 2088-2094.
Identification and classification of single-event upsets in the configuration memory of sram-based fpgas
VIOLANTE, MASSIMO;SONZA REORDA, Matteo;BERNARDI, PAOLO;REBAUDENGO, Maurizio;
2003
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https://hdl.handle.net/11583/1404847
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