INGLESE, PIETRO
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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A machine learning-based approach to optimize repair and increase yield of embedded flash memories in automotive systems-on-chip / Manzini, A., Inglese, P., Caldi, L., Cantoro, R., Carnevale, G., Coppetta, M., Giltrelli, M., Mautone, N., Irrera, F., Ullmann, R., Bernardi, P.. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 1-6. (2019 IEEE European Test Symposium (ETS) Baden-Baden, Germany 27-31 May 2019) [10.1109/ETS.2019.8791529]. | 1-gen-2019 | Inglese P.Caldi L.Cantoro R.Bernardi P. + | ets19-99.pdf; PUBLISHED-08791529.pdf |