CALDI, LEONARDO

CALDI, LEONARDO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

044352  

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A machine learning-based approach to optimize repair and increase yield of embedded flash memories in automotive systems-on-chip / Manzini, A.; Inglese, P.; Caldi, L.; Cantoro, R.; Carnevale, G.; Coppetta, M.; Giltrelli, M.; Mautone, N.; Irrera, F.; Ullmann, R.; Bernardi, P.. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Baden-Baden, Germany nel 27-31 May 2019) [10.1109/ETS.2019.8791529]. 1-gen-2019 Inglese P.Caldi L.Cantoro R.Bernardi P. + ets19-99.pdfPUBLISHED-08791529.pdf