CIMMINO, DAVIDE
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 214
NA - Nord America 155
AS - Asia 69
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 6
SA - Sud America 2
AF - Africa 1
OC - Oceania 1
Totale 448
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 152
IT - Italia 119
DE - Germania 33
GB - Regno Unito 25
SG - Singapore 15
CN - Cina 12
HK - Hong Kong 10
IE - Irlanda 10
IN - India 8
TW - Taiwan 8
EU - Europa 6
RU - Federazione Russa 6
FR - Francia 5
ID - Indonesia 4
NL - Olanda 4
PH - Filippine 4
BE - Belgio 3
CA - Canada 3
JP - Giappone 3
PK - Pakistan 3
RO - Romania 3
CL - Cile 2
MT - Malta 2
AU - Australia 1
CH - Svizzera 1
ET - Etiopia 1
FI - Finlandia 1
JO - Giordania 1
PL - Polonia 1
TR - Turchia 1
UA - Ucraina 1
Totale 448
Città #
Torino 24
Southend 21
Chandler 19
Santa Clara 18
Princeton 13
Hamburg 11
Duncan 10
Rome 10
Singapore 10
Berlin 9
Dublin 9
Boardman 8
Ann Arbor 7
Padova 7
Turin 7
Guangzhou 6
Roncofreddo 6
Milan 5
Cagliari 4
Jakarta 4
Redwood City 4
Amsterdam 3
Brussels 3
Central 3
Galati 3
Houston 3
Manila 3
New Delhi 3
Tokyo 3
Wilmington 3
Ashburn 2
Falls Church 2
Irkutsk 2
Islamabad 2
Menlo Park 2
Monza 2
San Donato Milanese 2
Sassenage 2
Taipei 2
Torella dei Lombardi 2
Zhengzhou 2
Addis Ababa 1
Basking Ridge 1
Bengaluru 1
Bremen 1
Bristol 1
Cambridge 1
Castel Volturno 1
Chatham 1
Dresden 1
Edinburgh 1
Esslingen am Neckar 1
Fairfield 1
Falkenstein 1
Gunzenhausen 1
Halfweg 1
Helsinki 1
Iligan City 1
Istanbul 1
Jinan 1
Karachi 1
Lauro 1
Los Angeles 1
Miami 1
Montreuil 1
Montréal 1
New Kensington 1
New York 1
Ottawa 1
Palermo 1
Piscataway 1
Raleigh 1
Roorkee 1
San Giusto Canavese 1
Seattle 1
Settimo Torinese 1
Shenzhen 1
Sydney 1
Tempio Pausania 1
Toronto 1
Vigone 1
Woodbridge 1
Totale 302
Nome #
High Voltage Temperature Humidity Bias Test (THB) customized system and methodologies for reliability assessment of power semiconductor devices 143
Multilayer film passivation for enhanced reliability of power semiconductor devices 133
Enhanced Electrical and Reliability Testing of Power Semiconductor Devices 114
High-Voltage Temperature Humidity Bias Test (HV-THB): Overview of Current Test Methodologies and Reliability Performances 76
Totale 466
Categoria #
all - tutte 1.345
article - articoli 964
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 2.309


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2019/202033 0 0 0 0 0 1 2 20 3 2 1 4
2020/202191 4 3 1 1 18 9 6 4 11 20 9 5
2021/2022113 6 9 18 7 5 9 1 5 5 3 23 22
2022/202388 11 19 6 8 5 14 6 4 6 2 4 3
2023/202450 1 1 7 1 6 4 1 12 0 6 2 9
2024/202559 2 9 10 18 12 8 0 0 0 0 0 0
Totale 466