Archivio Istituzionale della RicercaPANARITI, ALESSANDRO
PANARITI, ALESSANDRO
Dipartimento di Automatica Informatica (attivo dal 01/01/1900 al 31/12/2011)
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Layout-Aware Multi-Cell Upsets Effects Analysis on TMR Circuits Implemented on SRAM-Based FPGAs
2011 Sterpone, Luca; Violante, Massimo; Panariti, Alessandro; Bocquillo, A.; Miller, F.; Buard, N.; Manuzzato, A.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.
Cumulative embedded memory failure bitmap display & analysis
2010 Campanelli, N.; Kekeres, T.; Bernardi, Paolo; DE CARVALHO, Mauricio; Panariti, Alessandro; SONZA REORDA, Matteo; Appello, D.; Barrone, M.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Layout-Aware Multi-Cell Upsets Effects Analysis on TMR Circuits Implemented on SRAM-Based FPGAs / Sterpone, L., Violante, M., Panariti, A., Bocquillo, A., Miller, F., Buard, N., Manuzzato, A., Gerardin, S., Paccagnella, A.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 58:5(2011), pp. 2325-2332. [10.1109/TNS.2011.2161887] | 1-gen-2011 | STERPONE, LucaVIOLANTE, MASSIMOPANARITI, ALESSANDRO + | - |
| Cumulative embedded memory failure bitmap display & analysis / Campanelli, N., Kekeres, T., Bernardi, P., DE CARVALHO, M., Panariti, A., SONZA REORDA, M., Appello, D., Barrone, M.. - ELETTRONICO. - (2010), pp. 255-260. (2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) Vienna (Autria) 14-16 April 2010) [10.1109/DDECS.2010.5654683]. | 1-gen-2010 | BERNARDI, PAOLODE CARVALHO, MAURICIOPANARITI, ALESSANDROSONZA REORDA, Matteo + | - |