Editorial (ESREF 2022 Special issue) / Iannuzzo, F., Altmann, F., Meneghini, M., Marc, F., Wittler, O.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 138:(2022). [10.1016/j.microrel.2022.114821]
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https://hdl.handle.net/11583/3015016
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