Archivio Istituzionale della RicercaMENEGHINI, MATTEO
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Investigating the optical degradation of InAs quantum dot lasers on silicon through combined electro-optical characterization and gain measurements
2025 Zenari, Michele; Novarese, Marco; Buffolo, Matteo; De Santi, Carlo; Norman, Justin; T Hughes, Eamonn; E Bowers, John; W Herrick, Robert; Gioannini, Mariangela; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico; Meneghini, Matteo
Editorial (ESREF 2022 Special issue)
2022 Iannuzzo, Francesco; Altmann, Frank; Meneghini, Matteo; Marc, Francois; Wittler, Olaf
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Investigating the optical degradation of InAs quantum dot lasers on silicon through combined electro-optical characterization and gain measurements / Zenari, M., Novarese, M., Buffolo, M., De Santi, C., Norman, J., T Hughes, E., E Bowers, J., W Herrick, R., Gioannini, M., Meneghesso, G., Zanoni, E., Meneghini, M.. - In: JPHYS PHOTONICS. - ISSN 2515-7647. - 7:2(2025). [10.1088/2515-7647/adb4b4] | 1-gen-2025 | Marco NovareseMariangela GioanniniMatteo Meneghini + | Zenari_2025_J._Phys._Photonics_7_025007.pdf |
| Editorial (ESREF 2022 Special issue) / Iannuzzo, F., Altmann, F., Meneghini, M., Marc, F., Wittler, O.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 138:(2022). [10.1016/j.microrel.2022.114821] | 1-gen-2022 | Iannuzzo, FrancescoMeneghini, Matteo + | - |