Analysis of Hard and Soft Switching Loss Imbalance Induced by Parameter Dispersion in Parallel Connected SiC MOSFETs / Deldimos, D., Piccioni, A., Stella, F., Pellegrino, G.. - (2026), pp. 3404-3410. (2026 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) ) [10.1109/apec51134.2026.11517084].
Analysis of Hard and Soft Switching Loss Imbalance Induced by Parameter Dispersion in Parallel Connected SiC MOSFETs
Deldimos, Dimitrios;Stella, Fausto;Pellegrino, Gianmario
2026
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https://hdl.handle.net/11583/3011199
