A Novel Tester-Based Approach for Functional Testing of Hardware Timers / Di Gruttola Giardino, Nicola. - ELETTRONICO. - (2025). (Intervento presentato al convegno 2025 IEEE International Test Conference tenutosi a San Diego, USA nel 21–26 September 2025).

A Novel Tester-Based Approach for Functional Testing of Hardware Timers

Nicola di Gruttola Giardino
2025

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/3003443
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