Archivio Istituzionale della RicercaThermal damage in SiC Schottky diodes induced by SE heavy ions / Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; P., Cova; N., Delmonte; F., Giuliani; Iannuzzo, Francesco; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 2014:(2014), pp. 2200-2206. [10.1016/j.microrel.2014.07.081]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/3000753