Archivio Istituzionale della RicercaThermal damage in SiC Schottky diodes induced by SE heavy ions / Abbate, C., Busatto, G., P., C., N., D., F., G., Iannuzzo, F., Sanseverino, A., Velardi, F.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 2014:(2014), pp. 2200-2206. [10.1016/j.microrel.2014.07.081]
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https://hdl.handle.net/11583/3000753