Archivio Istituzionale della RicercaSingle Event Effects in Power MOSFETs during Heavy Ion Irradiations Performed after Gamma Ray Degradation / Busatto, Giovanni; DE LUCA, Valentina; Iannuzzo, Francesco; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - Vol.60:(2013), pp. 3793-3801. [10.1109/TNS.2013.2278038]
Single Event Effects in Power MOSFETs during Heavy Ion Irradiations Performed after Gamma Ray Degradation
IANNUZZO, Francesco;
2013
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https://hdl.handle.net/11583/3000745