Archivio Istituzionale della RicercaRobustness of MW-Level IGBT modules against gate oscillations under short circuit events / Reigosa, P. D.; Wu, R.; Iannuzzo, Francesco; Blaabjerg, F.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 55:9-10(2015), pp. 1950-1955. [10.1016/j.microrel.2015.07.011]
Robustness of MW-Level IGBT modules against gate oscillations under short circuit events
IANNUZZO, Francesco;
2015
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https://hdl.handle.net/11583/3000740