Archivio Istituzionale della RicercaInstabilities in Silicon Power Devices: A Review of Failure Mechanisms in Modern Power Devices / Iannuzzo, Francesco; Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni. - In: IEEE INDUSTRIAL ELECTRONICS MAGAZINE. - ISSN 1932-4529. - 8:3(2014), pp. 28-39. [10.1109/MIE.2014.2305758]
Instabilities in Silicon Power Devices: A Review of Failure Mechanisms in Modern Power Devices
IANNUZZO, Francesco;
2014
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https://hdl.handle.net/11583/3000736