Archivio Istituzionale della RicercaWe report pump-probe experiments for measuring free carrier lifetime in Si and Si/poly-Si microrings and compare results with trap-assisted Shockley-Read-Hall recombination model.
Measurements and modelling of free carrier lifetimes in Si and Si/poly-Si microrings / Novarese, Marco; Romero-García, Sebastian; Bovington, Jock; Gioannini, Mariangela. - ELETTRONICO. - (2023). (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE Silicon Photonics Conference (SiPhotonics) tenutosi a Washington, DC, USA nel 4-7 Aprile 2023) [10.1109/SiPhotonics55903.2023.10141966].
Measurements and modelling of free carrier lifetimes in Si and Si/poly-Si microrings
Marco Novarese;Mariangela Gioannini
2023
Abstract
We report pump-probe experiments for measuring free carrier lifetime in Si and Si/poly-Si microrings and compare results with trap-assisted Shockley-Read-Hall recombination model.
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https://hdl.handle.net/11583/2975280