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Enabling Cross-Layer Reliability and Functional Safety Assessment Through ML-Based Compact Models / Alexandrescu, Dan; Balakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Glorieux, Maximilien. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 26th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Naples (Italy) nel 13-15 July 2020) [10.1109/IOLTS50870.2020.9159750].

Enabling Cross-Layer Reliability and Functional Safety Assessment Through ML-Based Compact Models

Lange, Thomas;
2020
2020
978-1-7281-8187-5
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2846544