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EnglishMachine Learning Clustering Techniques for Selective Mitigation of Critical Design Features / Lange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca. - (2020), pp. 1-7. ((Intervento presentato al convegno 26th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Naples (Italy) nel 13-15 July 2020 [10.1109/IOLTS50870.2020.9159751].
| Titolo: | Machine Learning Clustering Techniques for Selective Mitigation of Critical Design Features | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2020 | |
| ISBN: | 978-1-7281-8187-5 | |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| 09159751.pdf | 2a Post-print versione editoriale / Version of Record | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
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http://hdl.handle.net/11583/2846537
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