PORTO @ Archivio Istituzionale della Ricerca

Machine Learning Clustering Techniques for Selective Mitigation of Critical Design Features / Lange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca. - (2020), pp. 1-7. (Intervento presentato al convegno 26th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Naples (Italy) nel 13-15 July 2020) [10.1109/IOLTS50870.2020.9159751].

Machine Learning Clustering Techniques for Selective Mitigation of Critical Design Features

Lange, Thomas;Sterpone, Luca
2020
2020
978-1-7281-8187-5
4.1 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
09159751.pdf

non disponibili

Tipologia: 2a Post-print versione editoriale / Version of Record
Licenza: Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione 393.5 kB
Formato Adobe PDF
  Visualizza/Apri   Richiedi una copia
393.5 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2846537