Archivio Istituzionale della RicercaEvaluating a Hardware-Based Approach for Detecting Resistive-Open Defects in SRAMs / Lavratti, F.; Bolzani Poehls, L. M.; Vargas, F.; Calimera, A.; Macii, E.. - 2015-:(2015), pp. 405-410. (Intervento presentato al convegno 28th International Conference on VLSI Design, VLSID 2015 - held concurrently with the 14th International Conference on Embedded Systems tenutosi a ind nel 2015) [10.1109/VLSID.2015.74].
Evaluating a Hardware-Based Approach for Detecting Resistive-Open Defects in SRAMs
Calimera, A.;Macii, E.
2015
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https://hdl.handle.net/11583/2750581
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