Archivio Istituzionale della RicercaMachine Learning To Tackle the Challenges of Transient and Soft Errors in Complex Circuits / Lange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 7-14. (Intervento presentato al convegno 25th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS)) [10.1109/IOLTS.2019.8854423].
Machine Learning To Tackle the Challenges of Transient and Soft Errors in Complex Circuits
Thomas Lange;Luca Sterpone
2019
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
08854423.pdf
non disponibili
Tipologia:
2a Post-print versione editoriale / Version of Record
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
14.23 MB
Formato
Adobe PDF
|
14.23 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2750216
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo