Archivio Istituzionale della RicercaOn the Estimation of Complex Circuits Functional Failure Rate by Machine Learning Techniques / Lange, T., Balakrishnan, A., Glorieux, M., Alexandrescu, D., Sterpone, L.. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 35-41. (49th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN-S) 2019 ) [10.1109/DSN-S.2019.00021].
On the Estimation of Complex Circuits Functional Failure Rate by Machine Learning Techniques
Lange, Thomas;Sterpone, Luca
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2750212
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