Archivio Istituzionale della RicercaUnderstanding multidimensional verification: Where functional meets non-functional / Lai, Xinhui; Balakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Jenihhin, Maksim; Ghasempouri, Tara; Raik, Jaan; Alexandrescu, Dan. - In: MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS. - ISSN 0141-9331. - ELETTRONICO. - 71:(2019), pp. 102867-102879. [10.1016/j.micpro.2019.102867]
Understanding multidimensional verification: Where functional meets non-functional
Lange, Thomas;
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2749797
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