Functional Failure Rate Due to Single-Event Transients in Clock Distribution Networks / Lange, Thomas; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 14th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS) 2019) [10.1109/DTIS.2019.8735052].
Functional Failure Rate Due to Single-Event Transients in Clock Distribution Networks
Lange, Thomas;Sterpone, Luca
2019
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2749792
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo