Archivio Istituzionale della RicercaA new approach to the analysis of single event transients in VLSI circuits / Reorda, Matteo Sonza; Violante, Massimo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - STAMPA. - 20:5 SPEC.ISS.(2004), pp. 511-521. [10.1023/B:JETT.0000042515.67579.c1]
A new approach to the analysis of single event transients in VLSI circuits
Reorda, Matteo Sonza;Violante, Massimo
2004
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https://hdl.handle.net/11583/2728794
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