A new approach to the analysis of single event transients in VLSI circuits / Reorda, Matteo Sonza; Violante, Massimo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - STAMPA. - 20:5 SPEC.ISS.(2004), pp. 511-521.
Titolo: | A new approach to the analysis of single event transients in VLSI circuits |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2004 |
Rivista: | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1023/B:JETT.0000042515.67579.c1 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/2728794
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