Archivio Istituzionale della RicercaA Rad-Hard 12-bit Auto-Calibrated ADC in CMOS 65nm / Ciciriello, F.; Marzocca, C.; Demaria, L.; Pacher, L.; Rotondo, F.; Wheadon, R.; DI SALVO, Andrea; Mazzucchelli, P.. - (2017), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC)) [10.1109/NSSMIC.2017.8532904].
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https://hdl.handle.net/11583/2722215
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