Single-Event Characterization of Xilinx UltraScale+® MPSOC under Standard and Ultra-High Energy Heavy-Ion Irradiation / Glorieux, M., Evans, A., Lange, T., In, A., Alexandrescu, D., Boatella-Polo, C., Garcı́a Alı́a, R., Tali, M., Urbina Ortega, C., Kastriotou, M., Fernández-Martı́nez, P., Ferlet-Cavrois, V.. - ELETTRONICO. - (2018). (IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference ).

Single-Event Characterization of Xilinx UltraScale+® MPSOC under Standard and Ultra-High Energy Heavy-Ion Irradiation

Thomas Lange;
2018

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2712650
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