MATS**: An On-Line Testing Approach for Reconfigurable Embedded Memories / Bozzoli, Ludovica; Sterpone, Luca. - (2019). ((Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems.
Titolo: | MATS**: An On-Line Testing Approach for Reconfigurable Embedded Memories |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2019 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/2712409
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