Archivio Istituzionale della RicercaMATS**: An On-Line Testing Approach for Reconfigurable Embedded Memories / Bozzoli, Ludovica; Sterpone, Luca. - (2019). (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Chicago (USA) nel 8 October 2018 through 10 October 2018) [10.1109/DFT.2018.8602934].
MATS**: An On-Line Testing Approach for Reconfigurable Embedded Memories
Ludovica Bozzoli;Luca Sterpone
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2712409
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