600 Mrad TID effects on a new generation high rate Pixel Readout ASIC in 65nm CMOS with low-power, low noise synchronous analog front-end using Fast ToT encoding and auto-zeroing / Ennio, Monteil; Lino, Demaria; Luca, Pacher; Andrea, Paterno; Angelo, Rivetti; Manuel Dionisio Da Rocha Rolo, ; Richard, Wheadon; Serena, Panati. - (2017). ((Intervento presentato al convegno Radecs2017 tenutosi a CERN, Givevra nel 2017.
Titolo: | 600 Mrad TID effects on a new generation high rate Pixel Readout ASIC in 65nm CMOS with low-power, low noise synchronous analog front-end using Fast ToT encoding and auto-zeroing |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2017 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/2685916
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