Archivio Istituzionale della Ricerca600 Mrad TID effects on a new generation high rate Pixel Readout ASIC in 65nm CMOS with low-power, low noise synchronous analog front-end using Fast ToT encoding and auto-zeroing / Ennio, Monteil; Lino, Demaria; Luca, Pacher; Paterno', Andrea; Angelo, Rivetti; Manuel Dionisio Da Rocha, Rolo; Richard, Wheadon; Panati, Serena. - (2017). (Intervento presentato al convegno Radecs2017 tenutosi a CERN, Givevra nel 2017).
600 Mrad TID effects on a new generation high rate Pixel Readout ASIC in 65nm CMOS with low-power, low noise synchronous analog front-end using Fast ToT encoding and auto-zeroing
PATERNO', ANDREA;PANATI, SERENA
2017
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https://hdl.handle.net/11583/2685916
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