Archivio Istituzionale della Ricerca600 Mrad TID effects on a new generation high rate Pixel Readout ASIC in 65nm CMOS with low-power, low noise synchronous analog front-end using Fast ToT encoding and auto-zeroing / Ennio, M., Lino, D., Luca, P., Paterno', A., Angelo, R., Manuel Dionisio Da Rocha, R., Richard, W., Panati, S.. - (2017). (Radecs2017 CERN, Givevra 2017).
600 Mrad TID effects on a new generation high rate Pixel Readout ASIC in 65nm CMOS with low-power, low noise synchronous analog front-end using Fast ToT encoding and auto-zeroing
PATERNO', ANDREA;PANATI, SERENA
2017
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https://hdl.handle.net/11583/2685916
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