Fragility and Evolution of Android Test Suites / Coppola, Riccardo. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 405-408. (Intervento presentato al convegno 39th IEEE/ACM International Conference on Software Engineering Companion, ICSE-C 2017 tenutosi a Buenos Aires (ARG) nel 2017) [10.1109/ICSE-C.2017.22].
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https://hdl.handle.net/11583/2679998
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