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EnglishWe present here an efficient numerical approach for the concurrent evaluation of the small-change deterministic device parameters and of the relevant Green’s functions exploited in the simulation of device small-signal (SS), small-signal large-signal (SSLS conversion matrix), stationary and cyclostationary noise, and variability properties of semiconductor devices through the solution of physics-based models based on a partial-differential equation description of charged carrier transport. The proposed technique guarantees a significant advantage in computation time with respect to the currently implemented solutions. The accuracy is the same as for the standard technique.
Concurrent Efficient Evaluation of Small-Change Parameters and Green's Functions for TCAD Device Noise and Variability Analysis / DONATI GUERRIERI, Simona; Pirola, Marco; Bonani, Fabrizio. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - STAMPA. - 64:3(2017), pp. 1261-1267.
| Titolo: | Concurrent Efficient Evaluation of Small-Change Parameters and Green's Functions for TCAD Device Noise and Variability Analysis |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2017 |
| Rivista: | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1109/TED.2017.2651168 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/2665944
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