A Low-Cost Reliability vs. Cost Trade-Off Methodology to Selectively Harden Logic Circuits / Wali, I.; Deveautour, B.; Virazel, Arnaud; Bosio, A.; Girard, P.; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 33:1(2017), pp. 25-36. [10.1007/s10836-017-5640-6]
A Low-Cost Reliability vs. Cost Trade-Off Methodology to Selectively Harden Logic Circuits
SONZA REORDA, Matteo
2017
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https://hdl.handle.net/11583/2663521
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