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Ageing of InGaN-based LEDs: Effects on internal quantum efficiency and role of defects / La Grassa, Marco; Meneghini, Matteo; De Santi, Carlo; Mandurrino, Marco; Goano, Michele; Bertazzi, Francesco; Zeisel, Roland; Galler, Bastian; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 55:9-10(2015), pp. 1775-1778. [10.1016/j.microrel.2015.06.103]

Ageing of InGaN-based LEDs: Effects on internal quantum efficiency and role of defects

MANDURRINO, MARCO;GOANO, MICHELE;BERTAZZI, FRANCESCO;
2015
2015
MICROELECTRONICS RELIABILITY
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