Archivio Istituzionale della RicercaReliability of capacitive RF MEMS switches subjected to repetitive impact cycles at different temperatures / Barbato, M.; Cester, A.; Mulloni, V.; Margesin, B.; DE PASQUALE, Giorgio; Soma', Aurelio; Meneghesso, G.. - STAMPA. - (2014), pp. 70-73. (Intervento presentato al convegno 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC) tenutosi a Venice, Italy nel 22-26 September 2014) [10.1109/ESSDERC.2014.6948760].
Reliability of capacitive RF MEMS switches subjected to repetitive impact cycles at different temperatures
DE PASQUALE, GIORGIO;SOMA', AURELIO;
2014
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https://hdl.handle.net/11583/2615908
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