Electrical analysis and interface states evaluation of Ni Schottky diodes on 4H-SiC thick epilayers / Porro, Samuele; Rafal R., Ciechonski; Mikael, Syväjärvi; Rositza, Yakimova. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - 202:(2005), pp. 2508-2514. [10.1002/pssa.200521147]

Electrical analysis and interface states evaluation of Ni Schottky diodes on 4H-SiC thick epilayers

PORRO, SAMUELE;
2005

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