Archivio Istituzionale della RicercaAn efficient method for ECSM characterization of CMOS inverter in nanometer range technologiesInternational Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) / Baljit, Kaur; Miryala, Sandeep; S. K., Manhas; Bulusu, Anand. - (2013), pp. 665-669. (Intervento presentato al convegno International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)) [10.1109/ISQED.2013.6523681].
An efficient method for ECSM characterization of CMOS inverter in nanometer range technologiesInternational Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
MIRYALA, SANDEEP;
2013
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2520501
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo