An efficient method for ECSM characterization of CMOS inverter in nanometer range technologiesInternational Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) / Baljit, Kaur; Miryala, Sandeep; S. K., Manhas; Bulusu, Anand. - (2013), pp. 665-669. (Intervento presentato al convegno International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)) [10.1109/ISQED.2013.6523681].

An efficient method for ECSM characterization of CMOS inverter in nanometer range technologiesInternational Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

MIRYALA, SANDEEP;
2013

2013
9781467349512
9781467349529
9781467349536
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