Archivio Istituzionale della RicercaTechnique based on On-Chip Current Sensors and Neighbourhood Comparison Logic to detect resistive-open defects in SRAMs / Lavratti, F.; Bolzani, L.; Calimera, Andrea; Vargas, F.; Macii, Enrico. - (2013), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno LATW-13: IEEE Latin American Test Workshop tenutosi a Cordoba nel April) [10.1109/LATW.2013.6562688].
Technique based on On-Chip Current Sensors and Neighbourhood Comparison Logic to detect resistive-open defects in SRAMs
CALIMERA, ANDREA;MACII, Enrico
2013
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https://hdl.handle.net/11583/2519019
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