Analysis of Non-Aligned Double JPEG Artifacts for the Localization of Image Forgeries / Bianchi, Tiziano; A., Piva. - (2011), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2011 IEEE Workshop on Information Forensics and Security (WIFS) tenutosi a Foz do Iguaçu, Brazil nel November 29th - December 2nd 2011) [10.1109/WIFS.2011.6123159].
Analysis of Non-Aligned Double JPEG Artifacts for the Localization of Image Forgeries
BIANCHI, TIZIANO;
2011
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https://hdl.handle.net/11583/2505889
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