System-level fault modeling and test pattern generation with process algebras / Camurati, Paolo Enrico; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (1993), pp. 47-56. (Intervento presentato al convegno ETC-93: IEEE 3rd European Test Conference tenutosi a Rotterdam (The Netherlands) nel Apr 19-22, 1993) [10.1109/ETC.1993.246534].
System-level fault modeling and test pattern generation with process algebras
CAMURATI, Paolo Enrico;CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto
1993
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https://hdl.handle.net/11583/2501316
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