Layout-aware multi-cell upsets effects analysis on TMR circuits implemented on SRAM-based FPGAs / Sterpone, L., Violante, M., Bocquillon, A., Miller, F., Buard, N., Manuzzato, A., Gerardin, S., Pacagnella, A.. - (2009). (Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2009 European Conference on ) [10.1109/RADECS.2009.5994561].

Layout-aware multi-cell upsets effects analysis on TMR circuits implemented on SRAM-based FPGAs

STERPONE, Luca;VIOLANTE, MASSIMO;
2009

2009
9781457704925
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2500052
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo